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Letzte Aktualisierung: 08.02.2024
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Im Falle von Solarzellen bzw. Solarmodulen wird die Elektrolumineszenz-Messung zur Ermittlung von Schäden. Dazu wird Licht aufgenommen, das durch die angelegte Spannung ausgesendet und sichtbar gemacht wird. Wie bei Leuchtdioden, beruht auch diese Lichtaussendung auf einer physikalischen Gesetzmäßigkeit: Die in die Solarzelle injizierten Elektronen rekombinieren mit den vorhandenen Löchern, sodass die frei werdende Energie in Form eines Photons abgegeben wird.
Im Unterschied zu herkömmlichen Leuchtdioden ist die Lumineszenzstrahlung von Silizium (der Solarzellen) für das menschliche Auge nicht sichtbar. Wir können nur Licht im Wellenlängenbereich zwischen 400 nm und 650 nm sehen. Die maximale Lumineszenzstrahlung von Silizium beträgt im infraroten Wellenlängenbereich nur 1150 nm.
Um Photonen zu erzeugen, wird das Photovoltaik-Modul mit einer Gleichspannung belegt. Durch eine Rückwärtsbestromung des PV-Moduls bzw. Modulstrangs kann die entstehende elektromagnetische Strahlung sichtbar gemacht werden. Für die Messung der Lumineszenzstrahlung von PV gibt es eine spezielle Kamera. Bei Silizium-Zellen sind das z. B. gekühlte Silizium-(Si)-CCD-Kameras.
Bei jeder EL-Messung PV wird zudem ein „Dunkelbild“ aufgenommen, wenn keine Spannung am gemessenen PV-Modul liegt. Dieses Dunkelbild wird dann vom Lumineszenzbild abgezogen. So entfernt das Verfahren verbleibendes Streulicht und Verzerrungen durch das Dunkelrauschen der Kamera aus dem Elektrolumineszenz-Bild. Nur so lassen sich EL-Bilder analysieren. Im nahezu Dunkeln sind EL-Messungen auch an Photovoltaik-Anlagen möglich.
Die Reduzierung der Konzentration der angeregten Elektronen werden dann im Elektrolumineszenzbild sichtbar. Dabei sind nicht alle Unterschiede Modulfehler:
Werden im Anlagen-Monitoring Ertragsverluste registriert, so gibt es u. a. die Möglichkeit der Elektrolumineszenz-Messung (EL-Messung). Sie kann Schäden an der Solaranlage wie z. B. defekte Bypass-Dioden, ausgefallene Module oder Zellen, Micro-Cracks und Zellbrüche zu aufspüren.
Fehler wie Microrisse, defekte Zellteile oder schadhafte Bypass-Dioden lassen sich mit dem bloßen Auge nicht erkennen. Um diese gezielt aufzudecken, eignet sich die Elektrolumineszenz-Messung (EL-Messung). Diese Technik gehört zu den bildgebenden Verfahren und macht es möglich, ähnlich wie Röntgenstrahlen, das Innere einer Solarzelle zu beleuchten.
Fehler | Ursache |
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Mikrorisse bei monkristallinen und multikristallinen Solarzellen, Zellstückabbrüche durch mehrere Mikrorisse | Bruch bei Zellherstellung, Bruch bei Verbindung der Solarzellen, Burch bei Transport, Aufbau oder Bertrieb (Wind, Schneelast, thermomechanische Belastung der Module) |
Fingerfehler | Pastenstreifen unterbrochen durch verstopftes Sieb beim Siebdruck, Bruch im Siliziumwafer, Schädigunbg beim Lötprozess |
Kontaktfehler durch Feuchte | Durch Feuchteeinwirkung wurde der Kontakt der Vorder- oder Rückseitenpaste zum Halbleiter unterbrochen |
Kontaktformungsfehler 1 | Das Förderband des Temperofens sorgt für eine inhomogene Temperaturverteilung beim Feuern der Metallpasten |
Kontaktformungsfehler 2 | Die Feuerparameter für die Metallisierungspasten sind inhomogen von außen nach innen |
Kurzschluss | Kantenisolationsfehler, Emitterschickt lokal defekt |
Bei der EL-Messung wird eine sogenannte Rückwärtsbestromung durchgeführt. Bei der Rückwärtsbestromung legt man mit einem speziellen Gerät Strom auf den Modulstrang, wodurch eine elektromagnetische Strahlung entsteht. Diese Strahlung lässt sich von einer speziellen Kamera im Dunkeln aufnehmen, weshalb die Messungen am einfachsten nachts durchgeführt werden.
Grundsätzlich gilt, nicht jeder Riss ist kritisch und das Solarmodul muss nicht sofort ausgetauscht werden. Weisen Module jedoch großflächig, dunkle (elektrisch nicht aktive Bereiche) auf, können die Solarmodule eine entsprechende Minderleistung aufweisen. Ob diese elektrisch inaktiven Bereiche vor oder nach der Produktion aufgetreten sind und wie hoch eine Leistungsminderung ist, kann nur eine Leistungsmessung der PV-Module klären. Ebenso gibt es bisher keine fundierten Erkenntnisse darüber, ob Mikrorisse in den nächsten Jahren wachsen und zu Zellbruch führen.
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